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裂纹外观缺陷检测

光源：CF-70-W+CLD-5031-W+CC-30-W 裂纹外观缺陷检测，背向光用均匀的面光照射可以把产品透明部分及芯片特征轮廓体现出来。正向光使用曲面反射的漫射光照射到产品表面，消除反光，因为隧道光的中间开槽反光，所以中间部分需要一个合适的同轴光来消除光斑，三个光源组合，一次拍照即可把所有的缺陷效果呈现出来。
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