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CPU划伤凹坑检测

光源：B4-15022-W+CC-100-B
CPU划伤凹坑检测，凹坑选择每个光源角度可调的四面可调光源，把角度调到低角度，凹坑缺陷选用能消除表面反光的同轴光源，均匀照射在产品表面，两个光源组合，划伤打亮，凹坑部分由于反射光路不一致，未反射到镜头里面，在图像形成黑色特征，两个光源同时点亮，两缺陷特征无明显干扰。

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磁环外壁检测方案

磁环，通常由铁、镍、钴等软磁性材料制成，是电子和电气设备中必不可少的元件。磁环通过闭合的磁路径产生磁场、传递磁能。质量的好坏直接决定设备性能。目前，生产企业针对磁环外壁在生产过程中可能产生的断开、多胶、裂纹、碰伤等加工缺陷检测主要依靠人眼。人工检测法判断标准因人而异，不同个体检测结果可能不一样。检测效率和可靠性不高。企业亟需全新检测方案在出厂前完成磁环质量筛查。经过多方对比，最终客户选择创视自动化磁环外壁外观检测方案。

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