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发白雾等外观缺陷检测

光源：CF-70-W+CLD-5031-W+CC-30-W 发白雾等外观缺陷检测，背向光用均匀的面光照射可以把产品透明部分及芯片特征轮廓体现出来。正向光使用曲面反射的漫射光照射到产品表面，消除反光，因为隧道光的中间开槽反光，所以中间部分需要一个合适的同轴光来消除光斑，三个光源组合，一次拍照即可把所有的缺陷效果呈现出来。

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磁环外壁检测方案

磁环，通常由铁、镍、钴等软磁性材料制成，是电子和电气设备中必不可少的元件。磁环通过闭合的磁路径产生磁场、传递磁能。质量的好坏直接决定设备性能。目前，生产企业针对磁环外壁在生产过程中可能产生的断开、多胶、裂纹、碰伤等加工缺陷检测主要依靠人眼。人工检测法判断标准因人而异，不同个体检测结果可能不一样。检测效率和可靠性不高。企业亟需全新检测方案在出厂前完成磁环质量筛查。经过多方对比，最终客户选择创视自动化磁环外壁外观检测方案。

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